磁力显微术与扫描量子涡旋显微术：探测垒片材料中垒片景观

我们提供了关于新开发实验技术——扫描量子涡旋显微术 [Hovhannisyan 等，Commun. Mater., 第6卷，42（2025）]的方法学和基本原理的概述。该方法在研究超导薄膜和纳米器件中的涡旋夹层现象方面具有前景。特别是，我们通过低温磁力显微术研究了由磁溅射沉积的铍（Nb）薄膜的磁性质。随着温度接近超导临界温度，由结构缺陷引起的夹层势能减弱；因此，静电探针与单个量子涡旋之间吸引相互作用开始占主导。在这种情况下，磁探针在扫描过程中能够捕获一个涡旋。由于被拖动的涡旋继续与结构缺陷相互作用，它充当了一种高效的纳米探针，用于探索夹层势能并可视化垒片边界，实现的分辨率（30 nm）相当于超导相干长度。