利用Co-Ka和Cu-Ka X射线源对全Heusler Co2FeSi合金薄膜中原子无序的定量分析
材料科学
2010-05-26 v1
摘要
作者开发了一种利用Co-Ka和Cu-Ka X射线源进行X射线衍射分析全Heusler合金中原子无序结构的新技术。该技术可以定量评估全Heusler X2YZ合金中X、Y和Z原子之间交换的所有原子无序。特别是，该技术可以处理普通Cu-Ka XRD无法分析的DO3无序。通过将该技术应用于快速热退火形成的全Heusler Co2FeSi合金薄膜，揭示了原子无序随RTA温度的变化关系。对于在TA = 800°C下形成的薄膜，Co、Fe和Si原子在其原始位置上的占据率分别为98%、90%和93%，表明RTA形成的Co2FeSi薄膜具有极高有序度的L21结构。
引用
@article{arxiv.1002.1564,
title = {Quantitative analysis of atomic disorders in full-Heusler Co2FeSi alloy thin films using x-ray diffraction with Co-Ka and Cu-Ka sources},
author = {Yota Takamura and Ryosho Nakane and Satoshi Sugahara},
journal= {arXiv preprint arXiv:1002.1564},
year = {2010}
}
备注
18 pages (1 table and 4 figures are included)