含低浓度光活性杂质的固体氧化物的脉冲阴极发光光谱
光学
2016-08-24 v1 材料科学
摘要
在相同的实验条件下，研究了超纯 SiO2、GeO2、SnO2、TiO2、La2O3、Y2O3、Sc2O3、CaCO3 粉末以及 α-石英、Ca:YVO4、LiNbO3 和 Sc:LiNbO3 晶体的脉冲阴极发光（PCL）光谱。研究发现，SiO2、SnO2、GeO2、TiO2、La2O3 和 CaCO3 粉末的 PCL 光谱包含一个强度最大值位于 500 nm 的共有谱带；Y2O3、Sc2O3、PbWO4 和 Ca:YVO4 样品的 PCL 光谱包含一个位于 490 nm 的共有谱带；LiNbO3 和 Sc:LiNbO3 晶体的 PCL 光谱包含一个位于 507 nm 的共有谱带。研究发现，PCL 光谱的平均强度以及这些共有谱带的最大强度位置取决于材料的带隙跃迁类型。我们推测，这些共有谱带在所有研究材料的 PCL 光谱中具有相同的起源，并与 O2--O- 氧复合物的复合有关。这些复合物出现在阴离子和阳离子空位附近，由于晶格中的应力，配位多面体的几何结构和取向遭到破坏。
引用
@article{arxiv.1608.06565,
title = {Pulsed Cathodoluminescence Spectra of Solid Oxides with Low Concentrations of Optically-Active Impurities},
author = {V. A. Kozlov and S. A. Kutovoi and N. V. Pestovskii and A. A. Petrov and S. Yu. Savinov and Yu. D. Zavartsev and M. V. Zavertyaev and A. I. Zagumenniy},
journal= {arXiv preprint arXiv:1608.06565},
year = {2016}
}