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针对单次读取、恒定深度电路的伪随机性

计算复杂性 2015-09-21 v2

摘要

对于由单次读取、深度为 DD、在德摩根基上具有无界扇入的电路计算的布尔函数,我们提出了一个显式伪随机生成器,其种子长度为 O~(logD+1n)\tilde{O}(\log^{D+1} n)。该模型先前已知的最佳种子长度为 O~(logD+4n)\tilde{O}(\log^{D+4} n),由 Trevisan 和 Xue (CCC `13) 针对所有 AC0AC^0(不仅仅是单次读取)获得。我们的工作利用了 Reingold、Steinke 和 Vadhan (RANDOM `13) 引入的用于伪随机性的傅里叶分析技术,以证明 Gopalan 等人 (FOCS `12) 的生成器能够欺骗单次读取的 AC0AC^0。为此,我们证明了单次读取电路的一个新的傅里叶增长界,即对于每个由单次读取、深度 DD 电路计算的 F:{0,1}n{0,1}F: \{0,1\}^n\to\{0,1\},有 \begin{equation*}\sum_{s\subseteq[n], |s|=k}|\hat{F}[s]|\le O(\log^{D-1}n)^k,\end{equation*} 其中 F^\hat{F} 表示 FFZ2n\mathbb{Z}^n_2 上的傅里叶变换。

关键词

引用

@article{arxiv.1504.04675,
  title  = {Pseudorandomness for Read-Once, Constant-Depth Circuits},
  author = {Sitan Chen and Thomas Steinke and Salil Vadhan},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1504.04675},
  year   = {2015}
}