超导体/强铁磁体系统中的邻近诱导态密度振荡
超导电性
2015-05-30 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
我们测量了超导体/铁磁体 (S/F) 双层膜中隧穿态密度 (DOS) 随铁磁层厚度增加的演化，实验中 F 为强铁磁体 Ni。随着 Ni 厚度增加，我们从微分电导测量中探测到费米能处 DOS 的多次振荡。当 Ni 厚度从 1 nm 增加到 5 nm 时，与邻近效应相关的 DOS 特征从正常反转为倒置，并再次反转。
引用
@article{arxiv.1108.5613,
title = {Proximity-induced density-of-states oscillations in a superconductor/strong-ferromagnet system},
author = {Kurt M. Boden and W. P. Pratt and Norman O. Birge},
journal= {arXiv preprint arXiv:1108.5613},
year = {2015}
}
备注
4 pages, 4 figures