探究微分相位衬度扫描透射电子显微镜中刚性强度偏移模型的适用极限
仪器与探测器
2018-04-25 v1
摘要
微分相位衬度扫描透射电子显微镜(DPC-STEM)成像的刚性强度偏移模型假设，样品施加于探针的相位梯度使衍射图样强度按与该相位梯度成比例的量发生刚性偏移。这种行为在实践中很少被精确实现。通过结合实验结果、解析建模与数值计算，我们探究了刚性强度偏移行为的失效情况，以及其如何依赖于相位梯度的大小以及相位轮廓中特征与探针尺寸的相对尺度。我们给出了关于使用分段探测器进行定量相位重构时何时可应用刚性强度偏移模型的指导原则，并提出了探针整形策略以进一步提高精度。
引用
@article{arxiv.1801.07572,
title = {Probing the limits of the rigid-intensity-shift model in differential phase contrast scanning transmission electron microscopy},
author = {L. Clark and H. G. Brown and D. M. Paganin and M. J. Morgan and T. Matsumoto and N. Shibata and T. C. Petersen and S. D. Findlay},
journal= {arXiv preprint arXiv:1801.07572},
year = {2018}
}
备注
13 pages