通过部分微分宽度探测带电标量的灵敏度：$\tau\rightarrow K\pi\pi\nu_{\tau}$ 衰变

我们定义并测试了过程 $\tau\rightarrow K\pi\pi\nu_{\tau}$ 的 CP 偶和 CP 奇部分微分宽度，假设一个中间重带电标量对衰变振幅有贡献。采用模型无关的方法，我们使用蒙特卡洛模拟来研究从这些可观测量中恢复新物理信息所需的事件数。我们对 CP 奇可观量的分析表明，与新的物理贡献相关的量 $f_H \eta_P$ 的幅度可以在 $3\times 10^6$ 个事件中以小于 3% 的不确定性恢复。这个事件数还允许以百分比的精度恢复 SM 振幅中出现的某些参数。此外，我们讨论了使用所提出的可观测量来研究涉及两个希格斯二重态的具体模型（如 aligned two-Higgs-doublet model (A2HDM)）的可能性。这项分析是在即将到来的超级 B 工厂的背景下进行的，预计超级 B 工厂将提供比 B 工厂多得多的事件数。此外，类似的一组可观测量可用于研究其他衰变模式，如 $\tau\rightarrow\pi\pi\pi\nu_{\tau}$、$\tau\rightarrow KK\pi\nu_{\tau}$ 和 $\tau\rightarrow KKK\nu_{\tau}$。