通过单电子晶体管的计数统计探测马约拉纳束缚态
介观与纳米尺度物理
2015-06-23 v2
摘要
我们提出了一种方法，通过附近电荷探测器（形式为单电子晶体管，SET）的计数统计来探测纳米线中的马约拉纳束缚态（MBSs）。我们考虑了探测器与纳米线一端相邻 MBS 的局域耦合，以及与另一端 MBS 的非局域耦合对计数统计的影响。我们表明，在不存在 MBSs 或耦合至费米子态时，对称 SET 构型下的 SET 电流法诺因子和偏度最小化。然而，在存在 MBSs 的情况下，最小工作点显著偏移至非对称 SET 构型，即漏极隧穿率高于源极。即使改变两个 MBS 之间的非局域耦合和配对能，这一特征依然存在。我们预期这些由 MBS 引起的偏移可以通过现有技术进行实验测量，并可作为 MBSs 的重要特征信号。
引用
@article{arxiv.1311.4724,
title = {Probing Majorana bound states via counting statistics of a single electron transistor},
author = {Zeng-Zhao Li and Chi-Hang Lam and J. Q. You},
journal= {arXiv preprint arXiv:1311.4724},
year = {2015}
}
备注
10 pages, 5 figures