利用μ子层析成像精确测量线性散射密度
仪器与探测器
2016-07-25 v2
摘要
我们证明μ子层析成像可用于精确测量各种材料的性质。所考虑的材料提取自一个实验性高炉，包括碳（焦炭）和铁的氧化物，对这些材料进行了线性散射密度相对于质量密度的测量，绝对精度达到10%。我们报告了为获得如此精度所使用的程序，并进行了讨论，以说明该技术应用于更重材料时的预期性能。我们获得的结果不依赖于所考虑的具体材料类型，因此可以推广到任何应用。
引用
@article{arxiv.1605.07605,
title = {Precision measurements of Linear Scattering Density using Muon Tomography},
author = {E. Åström and G. Bonomi and I. Calliari and P. Calvini and P. Checchia and A. Donzella and E. Faraci and F. Forsberg and F. Gonella and X. Hu and J. Klinger and L. Sundqvist Ödqvist and D. Pagano and A. Rigoni and E. Ramous and M. Urbani and S. Vanini and A. Zenoni and G. Zumerle},
journal= {arXiv preprint arXiv:1605.07605},
year = {2016}
}
备注
16 pages, 4 figures