使用GEM探测器的μ子层析成像站对高Z材料的探测与成像
仪器与探测器
2016-11-17 v2
摘要
基于大气宇宙射线μ子多次散射测量的μ子层析成像是一种有前景的技术，可用于探测和成像重屏蔽的高Z核材料，如浓缩铀。该技术可补充目前部署在国际边境和港口的标准辐射探测门，后者对重屏蔽核材料不太敏感。我们使用一个最小化的μ子层析成像站原型，以的体素对小型目标进行三维成像，该原型使用气体电子倍增器(GEM)探测器跟踪μ子，并通过间距为400微米的x-y微条进行二维读出。使用初步的电子学系统，GEM探测器在两个维度上均实现了130微米的空间分辨率。在下一个基于GEM的原型站中，我们计划探测约27升的有效体积。我们展示了使用最终前端电子学和数据采集系统，对下一个μ子层析成像原型的 GEM探测器的全部1536条微条进行读出的初步结果。这是由RD51合作组最近专门为微图案气体探测器开发的可扩展读出系统(SRS)的首次全尺寸实现。本文介绍了SRS的设计以及读出GEM探测器时的首次性能结果。
引用
@article{arxiv.1011.3231,
title = {Detection and Imaging of High-Z Materials with a Muon Tomography Station Using GEM Detectors},
author = {K. Gnanvo and B. Benson and W. Bittner and F. Costa and L. Grasso and M. Hohlmann and J. B. Locke and S. Martoiu and H. Muller and M. Staib and A. Tarazona and J. Toledo},
journal= {arXiv preprint arXiv:1011.3231},
year = {2016}
}
备注
v2 with updated author list, 8 pages, 17 figures, subm. for publication in conference record of 2010 IEEE Nucl. Sci. Symp., Knoxville, TN