中微子束流设施处的高分辨率缪子计算机断层扫描
仪器与探测器
2015-01-29 v1 高能物理 - 实验
摘要
X 射线计算机断层扫描 (CT) 在构建轻质材料物体的 3D 图像方面发挥着不可或缺的作用。然而，受限于吸收系数，X 射线无法深入穿透铜和铅等材料。在此，我们通过模拟表明，缪子束流可以提供致密物体及其内部结构的高分辨率断层图像。多重散射导致的分辨率展宽效应随缪子动量的增加而减小。随着缪子动量的增加，图像对比度下降，因此需要更高分辨率的缪子谱仪来解析图像。测量到的缪子动量方差达到最小值后随动量增加而增大。方差增大的影响是需要更高的积分缪子通量以减少涨落。高分辨率缪子计算机断层扫描所需的通量要求和对比度水平，与中微子束流设施中π介子衰变管产生的缪子以及缪子谱仪所能实现的动量分辨率非常匹配。这种成像系统可应用于考古学、艺术史、工程学、材料鉴定以及任何需要对由致密材料构成的可运输物体内部进行成像的场合。
引用
@article{arxiv.1501.07238,
title = {High Resolution Muon Computed Tomography at Neutrino Beam Facilities},
author = {Burkhant Suerfu and Christopher G. Tully},
journal= {arXiv preprint arXiv:1501.07238},
year = {2015}
}