阈下 dπ → NN 跃迁强度的精确测定
核实验
2010-04-14 v1
摘要
一种不寻常但有效的方法，用于在阈下测定 dπ → NN 跃迁强度，是利用π介子氘中的强子基态展宽，该展宽可通过X射线光谱学获得。该展宽主要由真吸收通道 dπ⁻ → nn 主导，该通道通过电荷对称性和细致平衡与 s 波π介子产生过程 pp → dπ⁺ 相关联。利用奇异原子规避了产生实验中必须考虑的库仑修正对截面的影响。我们的专门测量得到展宽为 (1171+23/-49) meV，对应 (252+5/-11) μb。
引用
@article{arxiv.1003.4153,
title = {Precision determination of the dpi -> NN transition strength at threshold},
author = {Th. Strauch and F. D. Amaro and D. F. Anagnostopoulos and P. Bühler and D. S. Covita and H. Gorke and D. Gotta and A. Gruber and A. Hirtl and P. Indelicato and E. -O. LeBigot and M. Nekipelov and J. M. F. dos Santos and S. Schlesser and Ph. Schmid and L. M. Simons and M. Trassinelli and J. F. C. A. Veloso and J. Zmeskal},
journal= {arXiv preprint arXiv:1003.4153},
year = {2010}
}
备注
4 pages, 2 figures, 1 table