分子薄膜及相关界面的实用光电子发射表征

尽管“有机电子学”一词让人联想到有机器件，但其很大一部分内容涉及有机薄膜和界面等“有源元件”的物理性质。研究薄膜生长和界面形成过程对于理解控制其最终性能的机制尤为必要。在超高真空中进行此类实验，既可以“拉伸”准实时观测的时间尺度，又可以在原子水平上控制被探测系统的性质。光电子发射技术直接探测电子和化学结构，因此已成为该领域的主要工具之一。本综述主要关注通过光电子发射技术研究的低聚物分子薄膜及其界面的电子性质。然而，它并不旨在对该主题进行全面概述；而是旨在针对有机材料的光电子发射表征和分析中常见的标准问题，尽管需要考虑分子薄膜在生长、电子性质及其表征和分析方面的特殊性。特别是，将探讨分子薄膜的基本电子参数，如功函数、电离能、界面能级排列及其相互作用，同时考虑常被忽视的分子取向的影响。此外，还将讨论基于光电子发射表征的分子薄膜能带弯曲的含义，以及界面能级排列驱动机制的模型。