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范德华反铁磁半导体中的正振荡磁电阻

介观与纳米尺度物理 2024-10-24 v1 无序系统与神经网络 材料科学

摘要

在所有迄今研究的范德华层状反铁磁半导体中,垂直输运测量均观察到负磁电阻,其特征趋势不依赖于施加的偏压。在此,我们报告了层状反铁磁半导体CrPS4_4上的垂直输运测量,其表现出截然不同的行为,即强烈依赖于偏压的正磁电阻,并且在厚度小于10纳米的器件中伴有明显的振荡。我们确定,这种意外行为源于输运受空间电荷限制,而非像先前研究的层状反铁磁半导体那样受注入限制。我们的分析表明,只有当电子注入到带隙内的缺陷态时,才会出现正磁电阻和振荡,而当电子注入到导带时,磁电阻消失。我们为观察到的现象提出了一种微观解释,该解释结合了无序半导体输运的典型概念与CrPS4_4磁态的已知特性,涵盖了所有基本的实验观察结果。我们的结果说明了需要详细了解通过vdW磁体的输运性质,以提取关于有序磁态性质及其微观特性的信息。

关键词

引用

@article{arxiv.2410.17930,
  title  = {Positive oscillating magnetoresistance in a van der Waals antiferromagnetic semiconductor},
  author = {Xiaohanwen Lin and Fan WU and Nicolas Ubrig and Menghan Liao and Fengrui Yao and Ignacio Gutiérrez-Lezama and Alberto F. Morpurgo},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2410.17930},
  year   = {2024}
}

备注

10pages, 7 figures, under evaluation