自组装量子点中的极化子松弛：半经典模型的失效
介观与纳米尺度物理
2009-11-13 v1 材料科学
摘要
我们通过考虑 LO-声子-电子相互作用以及各种无谐声子耦合，计算了自组装量子点中导带激发态的寿命。我们显示，极化子松弛无法用半经典模型准确描述。不同无谐衰减通道的贡献随极化子能量而强烈依赖。我们计算了极化子寿命的能量依赖性，并将结果与 InAs/GaAs 量子点中可用实验测量的极化子衰减时间进行比较。
引用
@article{arxiv.0711.4981,
title = {Polaron relaxation in self-assembled quantum dots: Breakdown of the semi-classical model},
author = {T. Grange and R. Ferreira and G. Bastard},
journal= {arXiv preprint arXiv:0711.4981},
year = {2009}
}
备注
5 pages, 4 figure, accepted for publication in Phys. Rev. B (Rapid Com.)