步长大于半波长的均匀平面近场天线测量

本文提出并评估了一种新的平面源辐射近场采样方案。更详细地说，本文展示了一种均匀采样准则，该准则允许用比经典半波长采样更少的测量次数来表示平面上的近场。首先，从文献中回顾了一种基于扭曲方法的近场离散化策略。后者需要收集非冗余数量的场测量值，这些测量值在观测域上非均匀排列。尽管如此，扭曲采样方案仅在测量平面不超过源尺寸时效果良好。当观测域较大时，它无法预测测量平面边缘处场样本的精确位置；因此，在这些区域，无法通过收集的样本恢复近场行为。为了克服这一缺点，我们利用了一种空间变化的过采样。这种过采样的选择方式使得最终的采样变得均匀。这种选择还确保了采样率仅在观测域边缘增加，从而允许通过其样本恢复近场。最后，基于实验数据的数值模拟证实了该方法在恢复近场和远场方面的有效性。