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双纹理零中微子质量矩阵的现象学

高能物理 - 唯象学 2008-11-26 v3

作者: S. Dev , Sanjeev Kumar , Surender Verma , Shivani Gupta

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摘要

在味基下，我们检验了双纹理零中微子质量矩阵的一般预言，特别关注同一类中质量矩阵之间的简并性，并获得了关于中微子参数的有趣约束。结果表明，对 $\theta_{23}$ 八分圆的了解、 $\cos\delta$ 的符号以及中微子质量等级可以用来消除这些简并性。

关键词

中微子质量矩阵双纹理零味基简并性中微子参数质量等级

引用

@article{arxiv.hep-ph/0612102,
  title  = {Phenomenology of Two-Texture Zero Neutrino Mass Matrices},
  author = {S. Dev and Sanjeev Kumar and Surender Verma and Shivani Gupta},
  journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ph/0612102},
  year   = {2008}
}

备注

25 pages, 8 figures, final version with minor changes, published in Phys. Rev. D