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用于Gotthard-II研制的模拟前端与ADC原型性能评估

仪器与探测器 2018-01-04 v2

摘要

Gotthard-II是为欧洲X射线自由电子激光(XFEL.EU)研制的硅微条探测器。其潜在科学应用包括X射线吸收/发射谱学、硬X射线高分辨单发能谱(HiREX)、4.5 MHz帧率下的能量色散实验、束流诊断,以及为像素探测器生成否决信号。Gotthard-II采用节距为50 μ\mum或25 μ\mum的硅微条传感器,具有1280或2560通道,经引线键合至读出芯片(ROCs)。在ROC中,将实现自适应增益切换前置放大器(PRE)、全差分相关双采样(CDS)级、模数转换器(ADC)以及能够存储XFEL.EU束团列中所有2700幅图像的静态随机存取存储器(SRAM)。采用UMC-110 nm CMOS工艺制备了具有不同模拟前端(PRE与CDS)设计及ADC测试结构的若干原型,并评估了其性能。本文总结模拟前端与ADC的性能。

关键词

引用

@article{arxiv.1711.08645,
  title  = {Performance Evaluation of the Analogue Front-End and ADC Prototypes for the Gotthard-II Development},
  author = {Jiaguo Zhang and Marie Andrä and Rebecca Barten and Anna Bergamaschi and Martin Brückner and Roberto Dinapoli and Erik Fröjdh and Dominic Greiffenberg and Carlos Lopez-Cuenca and Davide Mezza and Aldo Mozzanica and Marco Ramilli and Sophie Redford and Marie Ruat and Christian Ruder and Bernd Schmitt and Xintian Shi and Dhanya Thattil and Gemma Tinti and Monica Turcato and Seraphin Vettera},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1711.08645},
  year   = {2018}
}

备注

11 pages, 14 figures