电子界面重构导致的平行电子-空穴双层电导率
材料科学
2015-05-14 v3
摘要
钙钛矿SrTiO-LaAlO结构已成为研究极性界面丰富电子现象的模型系统。通过第一性原理计算和输运测量，我们证明额外的SrTiO覆盖层可防止LaAlO表面的结构和化学重构，并在比未覆盖系统显著更低的LaAlO薄膜厚度下触发电子重构。结合理论和实验证据（来自磁输运和紫外光电子能谱）表明存在两个空间分离的电子和空穴载流子层，其间距仅为1 nm。
引用
@article{arxiv.0912.4671,
title = {Parallel electron-hole bilayer conductivity from electronic interface reconstruction},
author = {R. Pentcheva and M. Huijben and K. Otte and W. E. Pickett and J. E. Kleibeuker and J. Huijben and H. Boschker and D. Kockmann and W. Siemons and G. Koster and H. J. W. Zandvliet and G. Rijnders and D. H. A. Blank and H. Hilgenkamp and A. Brinkman},
journal= {arXiv preprint arXiv:0912.4671},
year = {2015}
}
备注
Phys. Rev. Lett., in press