味对称中约束极大 CP 破坏的起源

当前中微子振荡实验数据与 $\delta =-\frac{\pi}{2}$ 和 $\theta_{23}^{} = \frac{\pi}{4}$ 吻合良好。我们定义了“约束极大 CP 破坏”(CMCPV) 的概念以预测这些特征，并研究了它们在味对称中的起源。我们推导了 CMCPV 的参数化无关解，并给出了一组等价定义。我们进一步提出了一个关于如何实现 CMCPV 的定理。该定理利用了中微子和带电轻子质量矩阵中的残余对称性，并指出，除少数次要例外，当这些对称性为实数时，将生成 $(|\delta |, \theta_{23}) =(\frac{\pi}{2}, \frac{\pi}{4})$。常被考虑的 $\mu$-$\tau$ 反射对称性以及 O(3) 的特定离散子群，是我们定理的特例。