平坦带石墨烯中味型序的光学成像
介观与纳米尺度物理
2024-05-15 v1 强关联电子
光学
摘要
自旋和谷浦输极化在平坦带石墨烯的众多体系中发挥着核心作用，常伴随量化异常霍金效应和超导体状态的观察。本文描述了一种敏感且选择性地通过邻近过渡金属二硫化物层的激子响应来检测味型纹理的光学技术。通过对 rhombohedral 和 rotationally faulted 石墨烯双层和三层的系统性研究，我们表明当半导体二硫化物与石墨烯直接接触时，激子响应对费米面重构的大尺度动量重新排列最为敏感，提供的信息与电气压缩性测量具有区别性和互补性。光学探针的广域成像能力使我们能够以高通量方式获得味型序的空间图，兼具宽广的温度和器件兼容性。我们的工作为平坦带石墨烯系统中的味型序的光学探测和成像铺平了道路。
引用
@article{arxiv.2405.08074,
title = {Optical Imaging of Flavor Order in Flat Band Graphene},
author = {Tian Xie and Tobias M. Wolf and Siyuan Xu and Zhiyuan Cui and Richen Xiong and Yunbo Ou and Patrick Hays and Ludwig F Holleis and Yi Guo and Owen I Sheekey and Caitlin Patterson and Trevor Arp and Kenji Watanabe and Takashi Taniguchi and Seth Ariel Tongay and Andrea F Young and Allan H. MacDonald and Chenhao Jin},
journal= {arXiv preprint arXiv:2405.08074},
year = {2024}
}
备注
29 pages, 4 figures, with supplementary materials