原子级薄二维材料中亮态与暗态局域激子态的光学指纹

点缺陷、局部应变或杂质会显著影响原子级薄二维材料的光学响应，因为它们为激子提供了俘获势。这些被俘获的激子在光致发光谱中表现为亮激子以下的新共振峰，甚至可用于单光子发射。尽管在确定性地引入缺陷方面已取得很大进展，但关于它们对二维材料光学指纹影响的认识仍十分有限。本文基于微观方法，揭示了局域亮激子态的直接特征以及局域动量暗激子的间接声子辅助边带。局域激子的可见性强烈依赖于温度和无序势宽度。这导致了不同的 regime，其中亮态或暗态局域态在光谱中占主导。我们将这种行为归因于无序诱导的激子俘获与谷间激子-声子散射过程之间的相互作用。