针对抗辐射寄存器的光故障注入攻击
密码学与安全
2022-01-19 v3 硬件体系结构
摘要
若设备可被物理接触，光故障注入攻击便构成巨大威胁，因为被处理的数据以及操作流均可能被篡改。成功的物理攻击不仅可能导致秘密信息（如密码学私钥）泄露，还可能造成经济损失，尤其是若此类篡改导致关键基础设施被成功攻击。基于激光的攻击利用了 CMOS 技术对可见光或红外光谱中电磁辐射的敏感性。可以预期，专为空间应用特制的抗辐射设计不仅对高能粒子与短电磁波更具鲁棒性，对抗光故障注入攻击亦然。本工作中，我们研究了抗辐射 JICG 移位寄存器对光故障注入攻击的敏感性。在实验中，尽管具有高空辐射容错能力，我们仍能反复触发位置位与位复位，改变单个 JICG 触发器中所存数据。
引用
@article{arxiv.2106.07271,
title = {Optical Fault Injection Attacks against Radiation-Hard Registers},
author = {Dmytro Petryk and Zoya Dyka and Roland Sorge and Jan Schaeffner and Peter Langendoerfer},
journal= {arXiv preprint arXiv:2106.07271},
year = {2022}
}