电磁故障注入：面向 32 位微控制器的故障模型
密码学与安全
2014-02-27 v1
摘要
过去十年中，注入瞬态故障作为攻击密码实现的方式已被广泛研究。已有若干针对硬件或软件架构利用电磁故障注入的攻击被提出。在微控制器上，电磁故障注入主要被视为跳过汇编指令或子程序调用的手段。然而，据我们所知，尚未有关于电磁毛刺故障注入对微控制器影响的精确研究。本文旨在两方面：深入研究电磁毛刺故障注入对最先进微控制器的影响，并构建相应的寄存器传输级故障模型。
引用
@article{arxiv.1402.6421,
title = {Electromagnetic fault injection: towards a fault model on a 32-bit microcontroller},
author = {Nicolas Moro and Amine Dehbaoui and Karine Heydemann and Bruno Robisson and Emmanuelle Encrenaz},
journal= {arXiv preprint arXiv:1402.6421},
year = {2014}
}
备注
10 pages