重中微子在大质量插入近似下产生的一圈有效味改变 $Zl_kl_m$ 顶点

在本文中，我们研究在低尺度 seesaw 模型中一圈产生的电弱 $Z$ 规范玻色子与两个不同味带电轻子 $l_k$ 和 $l_m$ 的有效味改变顶点，其中右手中微子质量重于电弱尺度。我们首先使用质量插入近似计算描述该顶点的形状因子，其中中微子 Yukawa 耦合矩阵的非对角元是唯一来源，在一圈水平上产生外腿含带电轻子的味改变过程。然后，通过考虑形状因子的右手中微子大质量展开，我们推导出一个非常简单且适用于快速现象学估计的 $Z l_k l_m$ 有效顶点公式。在工作的最后部分，我们聚焦于该顶点在 $Z \to l_k {\bar l}_m$ 衰变率简单而精确估计中的现象学应用。具体地，该顶点将使我们能基于现有数据轻易得出反 seesaw 模型中允许的最大衰变率。所发现的衰变率很有前景，处于未来轻子对撞机的探测范围内。