反 PT 非厄米电路中的杨泊松双缝现象观测
其他凝聚态物理
2024-04-23 v3
摘要
过去数十年间，干涉现象在量子与经典领域均有广泛研究，这揭示了光的波动性并广泛用于高精度测量。我们提出了在具有反 PT (APT) 镜像对称性的 Su-Schrieffer-Heeger (SSH) 电路模型中，由时间可变电压表现的离散衍射与干涉现象。为在 APT 电路中展示杨泊松双缝现象，我们初始探索了破缺相区电压的耦合模式理论 (CMT)，观察单次激励下的离散衍射和双次激励下的干涉。此外，我们设计了相位移电路以观察相位差和距离对离散干涉的影响。该工作将光学中的效应与凝聚态物理相结合，理论与实验地展示了电路中的杨泊松双缝现象。
关键词
引用
@article{arxiv.2404.11084,
title = {Observation of Young's double-slit phenomenon in anti-PT-symmetric electrical circuits},
author = {Keyu Pan and Xiumei Wang and Xizhou Shen and Haoyi Zhou and Xingping Zhou},
journal= {arXiv preprint arXiv:2404.11084},
year = {2024}
}