X 射线波段拓扑边缘态的观测
应用物理
2018-03-26 v2 加速器物理
光学
摘要
通过模仿固态系统的拓扑性质获得光的鲁棒边缘态，已对光学科学产生深远影响。随着存储环或 X 射线激光器等高通量加速器驱动光源的出现，将光学拓扑操控概念拓展至 X 射线波段颇具吸引力。本文在理论上提出并实验演示了具有不同带隙拓扑特性的两种光子晶体界面处 X 射线的拓扑边缘态。值得注意的是，只要满足零平均有效质量条件，该拓扑保护边缘态对结构中以厚度无序形式的弱无序及以层位置无序形式的强无序均免疫。因此，我们的研究将拓扑特性带入 X 射线波段，为研究 X 射线光学提供新理论工具，并可能为开发如 X 射线波段高效带通滤波器等一些重要潜在应用铺平道路。
引用
@article{arxiv.1802.10081,
title = {Observation of the topological edge state in X-ray band},
author = {Qiushi Huang and Zhiwei Guo and Jiangtao Feng and Changyang Yu and Haitao Jiang and Zhong Zhang and Zhanshan Wang and Hong Chen},
journal= {arXiv preprint arXiv:1802.10081},
year = {2018}
}
备注
20 pages, 6 figures