Be和Si箔中软X射线切伦科夫辐射的观测
加速器物理
2021-08-11 v4
摘要
目前，针对X射线区域的切伦科夫现象研究多为理论工作；该领域仅有少数实验。本文给出由5.7 MeV电子在薄Be和Si箔中产生的X射线切伦科夫辐射观测的新实验结果。首次观测到来自Be的切伦科夫效应。实验结果与根据考虑靶输出表面氧化层的渡辐射理论模型所进行的计算作了比较。
引用
@article{arxiv.2103.00579,
title = {Observation of soft X-ray Cherenkov radiation in Be and Si foils},
author = {S. R. Uglov and A. V. Vukolov},
journal= {arXiv preprint arXiv:2103.00579},
year = {2021}
}
备注
16 pages, 11 figures