薄膜中的非均匀热磁化噪声：在 GMR 磁头中的应用
统计力学
2009-11-07 v1 材料科学
摘要
本文提出了一种分析薄膜中非均匀热磁化涨落效应的一般方案。利用简正模形式体系计算了随机磁化涨落。磁化噪声与温度成正比，与薄膜体积成反比。总噪声功率是简正模谱噪声之和，主要由具有奇数个振荡的自旋波驻模决定。该效应随模数增加而迅速减弱。本文还给出了双胞模型的确切解析计算。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0111072,
title = {Non-uniform thermal magnetization noise in thin films: application to GMR heads},
author = {Vladimir L. Safonov and H. Neal Bertram},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0111072},
year = {2009}
}
备注
Paper for MMM'01, CB-10, to be published in J. Appl. Phys