基于非散斑的 DVC：利用实验室 X 射线 CT 测量均质固体中的大变形
材料科学
2023-04-13 v1
摘要
X 射线计算机断层扫描（XCT）已成为测量工程材料内部缺陷及其他微观结构特征的可靠计量工具。然而，迄今为止追踪物质点以测量三维（3D）变形，要么依赖于人为添加示踪粒子（散斑），要么利用夹杂物等固有微观结构特征。这极大限制了变形测量的空间分辨率与量级。本文报道一种新颖的通量增强层析关联（FETC）技术，其利用名义上均质的工程聚合物内部的固有不均匀性来追踪三维物质点位移，而无需借助人工散斑或夹杂物等微观结构特征。随后将 FETC 与欧拉/拉格朗日变换结合，用于多步数字体积相关（DVC）方法，以测量经历极端变形的复杂试样体积内变形梯度的全部九个分量。FETC 是一项强有力的技术，极大拓展了基于实验室的 XCT 的能力，除其他外，可提供数据驱动本构建模方法所需的输入。
引用
@article{arxiv.2304.05785,
title = {Non-Speckle-based DVC for Measuring Large Deformations in Homogeneous Solids using Laboratory X-ray CT},
author = {Zifan Wang and Akshay Joshi and Angkur Jyoti Dipanka Shaikeea and Vikram Susdhir Deshpande},
journal= {arXiv preprint arXiv:2304.05785},
year = {2023}
}
备注
20 pages, 7 figures