测量设备无关纠缠见证中的含噪量子输入漏洞

纠缠见证构成了一种在实验室中局部探测纠缠的有效方法，无需事先获知完整的密度矩阵。然而，在存在错误测量或探测器损耗的情况下，可分态可能在这样的探测中被误判为纠缠态。测量设备无关纠缠见证（MDI-EWs）即使在错误测量以及特定类型的损耗探测器下也从不探测到虚假纠缠。采用 MDI-EWs 忠实探测纠缠的一个关键假设是，产生“量子输入”——即除待探测纠缠的量子态之外附加的输入——的制备设备是完美的，且在其传输过程中无噪声。在此，我们放宽这些假设，并提供研究量子输入上噪声影响的通用框架，引入均匀与非均匀噪声模型。我们推导了均匀含噪映射保持 MDI-EWs 特性的充分条件。我们发现，在非均匀且具纠缠性的噪声情形下，即便 MDI-EWs 也可能探测到虚假纠缠。我们还研究了多种典型的局部噪声模型，并给出了在 Werner 态类中揭示纠缠的条件。