纳米尺度 YBCO 约瑟夫森结的噪声特性
超导电性
2011-12-06 v1
摘要
我们展示了通过两种不同光刻方法制备的纳米尺度双外延 YBa2Cu3O(7-x) (YBCO) 约瑟夫森结的电噪声测量结果。第一种（传统）技术通过非晶碳掩模进行离子铣削刻蚀直接定义结。第二种（软图形化）方法利用 MgO (110) 衬底上晶界界面处超导 YBCO (Y123) 相与绝缘 Y2BaCuO5 (Y211) 相之间的相竞争。本研究比较了两种方法的电压噪声特性。对于所有结（厚度为 100 nm，宽度为 250-500 nm），我们观察到大量单个电荷陷阱。我们从噪声数据中提取了电荷陷阱有效面积的近似值。根据噪声测量结果，我们推断具有大 c 轴隧穿分量的晶界 (GB) 界面的软图形化结具有均匀势垒和类 SIS 行为。具有以平行于 ab 面输运为主的 GB 界面的软图形化结的噪声特性符合共振隧穿势垒模型。相反，传统图形化结的超导输运通道受到抑制，其面积远小于标称结面积。这些发现对于在量子电路中实现纳米尺寸约瑟夫森结具有重要意义。
引用
@article{arxiv.1112.0680,
title = {Noise properties of nanoscale YBCO Josephson junctions},
author = {David Gustafsson and Floriana Lombardi and Thilo Bauch},
journal= {arXiv preprint arXiv:1112.0680},
year = {2011}
}
备注
11 Pages, 10 figures