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含单个分子的单分子断裂结的噪声与输运表征

介观与纳米尺度物理 2015-06-05 v1

摘要

我们研究了无分子和含分子的机械可控断裂结的噪声谱。两种类型的结在不同接触间距下均表现出典型的 1/f1/f 噪声特性,电流噪声功率谱密度与电流呈平方依赖关系。只有当纳米电极被单个1,4-苯二胺分子桥接时,才记录到额外的洛伦兹型(1/f21/f^2)噪声分量。与单个桥接分子相关的 1/f21/f^2 噪声的特征频率与锁定电流幅度相关。记录的洛伦兹型噪声分量随电流变化的行为被解释为分子与金属电极耦合的动态重构的表现。我们提出了一个唯象模型,将单个分子的电荷输运与其与金属电极耦合的重构联系起来。实验结果与理论结果吻合良好,表明分子与金属电极之间的耦合是需要考虑的重要方面。

关键词

引用

@article{arxiv.1206.3869,
  title  = {Noise and Transport Characterization of Single Molecular Break Junctions with Individual Molecule},
  author = {V. A. Sydoruk and D. Xiang and S. A. Vitusevich and M. V. Petrychuk and A. Vladyka and Y. Zhang and A. Offenhäusser and V. A. Kochelap and A. E. Belyaev and D. Mayer},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1206.3869},
  year   = {2015}
}

备注

15 pages, 7 figures