暴胀扰动谱中的新普适局域特征

我们建立了一个模型，其中暴胀子势在其二阶导数（即暴胀子的有效质量）处经历突然的微小变化。精确处理表明，由此产生的密度扰动具有准平坦的功率谱，其斜率存在断裂（即谱指数 $n_s$ 的阶跃）。谱指数的阶跃受特征振荡调制，导致谱指数的大幅度跑动局域在几个 e 折叠尺度上。产生这种暴胀子势行为的场论模型基于与暴胀子弱耦合的第二个标量场经历的快速相变。这种相变类似于混合暴胀场景中终止暴胀的相变。该场景表明，WMAP 数据中观测到的谱指数跑动可能是由暴胀期间发生的快速二阶相变引起的。