$^{123}$Te 天然电子俘获的新限制

在一项新的地下实验中，利用由 340 g TeO$_2$ 量热探测器组成的阵列，研究了 $^{123}$Te 的 K 壳层电子俘获。我们发现，先前关于这种衰变的一些迹象可能归因于天然碲中子活化产生的 $^{121}$Te 的电子俘获 (E.C.)。因此，在 90% 置信水平下，目前没有 K 壳层 $^{123}$Te 电子俘获的证据，其半衰期下限为 $t_{1/2}^K > 5 \times 10^{19}$ 年。考虑到预测的 K 壳层 E.C. 分支比，$^{123}$Te E.C. 半衰期的相应下限为 $t_{1/2} > 9.2 \times 10^{16}$ 年，这只能在核矩阵元强烈抑制的基础上进行理论解释。此外，本文还讨论了基于伴随内轫致辐射的 E.C. 预期分数的补充分析。