利用符合/反符合伽马射线谱学搜寻74Se中的双电子俘获
核实验
2015-12-09 v1 仪器与探测器
摘要
为了搜寻74Se中的双电子俘获，对单一、符合及反符合伽马射线谱学方法进行了评估。该过程是独特的，因为存在跃迁至74Ge的2+激发态（1204 keV）并通过能量为595.9 keV和608.4 keV的双伽马量子级联退激的概率。使用反宇宙线屏蔽的高纯锗谱仪和符合型高纯锗-碘化钠（铊）谱仪进行的长期测量，未显示74Se中双电子俘获的任何证据。74Se双电子俘获（包括无中微子和双中微子过程）半衰期的最佳下限估计为>1.5x10E19年。
引用
@article{arxiv.1507.02200,
title = {A search for double-electron capture in 74Se using coincidence/anticoincidence gamma-ray spectrometry},
author = {M. Jeskovsky and D. Frekers and A. Kovacik and P. P. Povinec and P. Puppe and J. Stanicek and I. Sykora and F. Simkovic and J. H. Thies},
journal= {arXiv preprint arXiv:1507.02200},
year = {2015}
}
备注
11 pages, 3 tables, 5 figures