利用液氙实验测量双电子俘获

D. -M. Mei; I. Marshall; W. -Z. Wei; C. Zhang

doi:10.1103/PhysRevC.89.014608

利用液氙实验测量双电子俘获

核实验 2015-06-17 v4

作者: D. -M. Mei , I. Marshall , W. -Z. Wei , C. Zhang

在 arXiv 上查看 ↗ PDF ↗ DOI ↗

摘要

我们研究了利用液氙暗物质实验观测 $^{124}$ Xe 衰变模式的可能性，该模式中两个电子被俘获，发射两个中微子，最终子核处于基态。利用 XENON100 实验发布的背景数据，计算出的衰变半衰期上限在 90% 置信水平（C.L.）下为 1.66 $\times10^{21}$ 年。采用来自大型地下氙（LUX）实验的已知背景模型，我们预测假设半衰期为 2.9 $\times$ 10 $^{21}$ 年，LUX 实验探测 $^{124}$ Xe 双电子俘获至 $^{124}$ Te 基态将产生约 115 个事件。我们得出结论，利用提议的 LUX-Zeplin (LZ) 实验可以更精确地测量 $^{124}$ Xe 2 $\nu$ 双电子俘获至 $^{124}$ Te 基态的过程。

关键词

双电子俘获液氙实验 $^{124}$Xe 衰变暗物质探测器半衰期测量 LUX-Zeplin

引用

@article{arxiv.1310.1946,
  title  = {Measuring Double-Electron Capture with Liquid Xenon Experiments},
  author = {D. -M. Mei and I. Marshall and W. -Z. Wei and C. Zhang},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1310.1946},
  year   = {2015}
}

备注

5 pages, 5 figures, and 2 tables

利用液氙实验测量双电子俘获

摘要

关键词

引用

备注

相关论文