MnSi 薄膜面内斯格明子的中子研究
介观与纳米尺度物理
2017-08-09 v1 其他凝聚态物理
摘要
通过结合极化中子反射术 (PNR) 和小角中子散射 (SANS)，在三维空间中探测了外延 MnSi/Si(111) 薄膜中面内斯格明子的磁结构。我们证明了斯格明子存在于相图中温度高于 10 K 的区域。PNR 显示，由于表面扭曲形成的势阱，斯格明子被限制在薄膜中部。然而，SANS 显示平面内存在显著的无序，表明磁结构是一种二维斯格明子玻璃。
引用
@article{arxiv.1706.01910,
title = {Neutron study of in-plane skyrmions in MnSi thin films},
author = {S. A. Meynell and M. N. Wilson and K. L. Krycka and B. J. Kirby and H. Fritzsche and T. L. Monchesky},
journal= {arXiv preprint arXiv:1706.01910},
year = {2017}
}