基于纳米力学系统的中性粒子质谱分析
仪器与探测器
2015-06-19 v2
摘要
当前的质谱分析方法需要电离分析物。对于高质量物种，产生的电荷态分布可能复杂且难以正确解释。在本文中，使用包括传统飞行时间质谱(TOF-MS)和基于纳米机电系统的质谱(NEMS-MS)原位设置的装置，我们直接表明NEMS-MS分析对电荷态不敏感：无论物种电荷态如何，光谱由单个峰组成，使其比现有MS分析清晰得多。在随后的测试中，所有带电粒子被静电从束流中移除，与TOF-MS不同，NEMS-MS仍然可以测量质量。这证明了测量中性粒子质谱的可能性。因此，可以设想基于MS的研究分析物与当前电离技术不兼容，现在为开发具有独特分析能力的尖端系统架构开辟了道路。
引用
@article{arxiv.1405.7281,
title = {Neutral particle Mass Spectrometry with Nanomechanical Systems},
author = {Eric Sage and Ariel Brenac and Thomas Alava and Robert Morel and Cécilia Dupré and Mehmet Selim Hanay and Michael L. Roukes and Laurent Duraffourg and Christophe Masselon and Sébastien Hentz},
journal= {arXiv preprint arXiv:1405.7281},
year = {2015}
}