近晶C液晶弹性体的负泊松比与半软弹性

近晶C液晶弹性体的模型预测其可以展现软弹性，即弹性体的形状变化无需能量代价。软模式的振幅及其伴随的剪切取决于层法向和指向矢相对于拉伸轴的取向。我们证明，在某些几何构型下，指向矢被迫旋转至垂直于拉伸轴的方向，导致样品横向膨胀，即产生负泊松比。当前的模型未包含物理样品中必然存在的缺陷效应。我们研究了一种简单的缺陷模型对多种几何构型下单畴近晶C弹性体中软模式的影响。当平行于层法向拉伸（施加应变）时，一旦指向矢开始旋转，弹性体便具有负刚度。我们通过一个简单的标量模型证明，这是该几何构型下负泊松比的结果。