SrRuO$_3$ 薄膜中的纳米尺度畴工程
材料科学
2023-07-25 v1
摘要
我们通过在 (110) 取向的 DyScO 衬底上外延生长的一组 SrRuO/PbTiO/SrRuO 异质结构中，研究基于外延耦合的纳米尺度畴工程。SrRuO 层厚度保持为 55 个原胞，而 PbTiO 层生长至 23、45 和 90 个原胞的厚度。通过原子力显微镜、X 射线衍射和高分辨扫描透射电子显微镜研究的结合，我们发现当铁电层超过某一临界厚度时，与铁弹畴相关的大结构畸变会穿过顶部 SrRuO 层传播，局部改变正交晶系 SrRuO 的取向，并形成一种延伸至铁电层边界之外的调制结构。
引用
@article{arxiv.2307.12651,
title = {Nanoscale domain engineering in SrRuO$_3$ thin films},
author = {Céline Lichtensteiger and Chia-Ping Su and Iaroslav Gaponenko and Marios Hadjimichael and Ludovica Tovaglieri and Patrycja Paruch and Alexandre Gloter and Jean-Marc Triscone},
journal= {arXiv preprint arXiv:2307.12651},
year = {2023}
}
备注
19 pages, 6 figures, supplementary materials. arXiv admin note: text overlap with arXiv:2304.06948