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硅中纳米压痕诱导的相变

材料科学 2007-08-10 v1

摘要

本文研究了硅中纳米压痕诱导的相变。使用尖锐的金刚石 Berkovich 压头进行了一系列纳米压痕实验。在纳米压痕过程中,最大载荷范围为 2000 μ\muN 至 5000 μ\muN,加载速率为 1000 μ\muN/sec。选择 100μ\muN/sec 的慢卸载速率以促进晶态终相,即高压相(Si-III 和 Si-XII)的形成。使用 1000μ\muN/sec 的快卸载速率以获得非晶相。通过 Raman 光谱和平面透射电子显微镜(TEM)对相变进行了检测。即使在载荷-深度特征曲线中未观察到“pop-in”和“pop-out”现象,也鉴定出了高压相。当最大载荷达到 3000 μ\muN 时,高压相出现在 c-Si 中。TEM 图像表明,在 5000 μ\muN 的最大载荷下,c-Si 中纳米尺度的高压相转变达到最优。

关键词

引用

@article{arxiv.0708.1294,
  title  = {Nanoindentation-Induced Phase Transformation in Silicon},
  author = {R. Rao and J. -E. Bradby and J. -S. Williams},
  journal= {arXiv preprint arXiv:0708.1294},
  year   = {2007}
}