具有纹理零的 Mu-tau 反射对称性

$\mu\tau$-反射对称性是一种简单的对称性，能够预测轻子部分所有未知的 CP 相和大气角，但过于简单而无法预测绝对中微子质量标度或质量顺序。我们表明，通过以非平凡方式将其与离散阿贝尔对称性相结合，我们可以额外强制实施一个纹理零（texture-zero），并获得一个高度可预测的情景：对于两个正序（NO）解，最轻中微子质量被固定在几 meV 范围内；对于一个反序（IO）解，则在几十 meV 范围内。预测无中微子双贝塔衰变的速率对于 NO 可忽略不计，或者对于 IO 具有有效质量 $m_{\beta\beta}\approx 14\text{ -- }29\,{\rm meV}$，正好处于未来实验将探测的区域。