基于惠更斯-菲涅耳原理的蒙特卡洛光线追迹衍射
光学
2018-05-23 v1
摘要
本工作的目标是确立惠更斯-菲涅耳原理在蒙特卡洛光线追迹（MCRT）环境中准确描述衍射的条件与限度。该目标通过专门实验、理论与数值结果的系统互比得以实现。我们通过预测并精细测量单缝与圆形孔径产生的衍射条纹来评估惠更斯-菲涅耳原理的成效。随后将解析与数值方法的结果相互比较，并与专门实验结果对照。我们得出结论：使用 MCRT 方法准确描述衍射需谨慎关注孔径点数、每孔径点追踪光线数以及屏幕上分箱数三者间的相互作用。该结论得到标准统计分析的支持，包括调整决定系数、均方根偏差与约化卡方统计量。
引用
@article{arxiv.1802.08814,
title = {Monte Carlo Ray-Trace Diffraction Based On the Huygens-Fresnel Principle},
author = {J. R. Mahan and N. Q. Vinh and V. X. Ho and N. B. Munir},
journal= {arXiv preprint arXiv:1802.08814},
year = {2018}
}
备注
7 pages