171Yb 原子阵列中的电路中测量与重排
量子物理
2024-02-13 v3 原子物理
摘要
基于测量的量子纠错依赖于在不揭示或扰动其余量子比特状态的前提下,确定处理器内子集量子比特(辅助比特)状态的能力。在中性原子平台中,一种可扩展、高保真且能使辅助量子比特保留适于后续操作状态的电路中测量方法尚未得到演示。本工作中,我们利用镊子囚禁的 171Yb 原子阵列中的窄线宽跃迁进行成像,演示了非破坏性的态选择性与位点选择性探测。通过施加位点特异性光移,阵列中选定的原子可被隐藏于成像光之外,从而允许测量部分量子比特,同时对剩余量子比特仅引入百分级误差。作为基于电路中测量结果的条件操作以及复用辅助量子比特能力的原理验证演示,我们执行了辅助位点的条件补充以纠正偶发原子丢失,同时保持数据量子比特的相干性。面向真正的连续运行,我们演示了以最小量子比特退相干程度加载磁光阱。
引用
@article{arxiv.2305.19119,
title = {Mid-circuit qubit measurement and rearrangement in a $^{171}$Yb atomic array},
author = {M. A. Norcia and W. B. Cairncross and K. Barnes and P. Battaglino and A. Brown and M. O. Brown and K. Cassella and C. -A. Chen and R. Coxe and D. Crow and J. Epstein and C. Griger and A. M. W. Jones and H. Kim and J. M. Kindem and J. King and S. S. Kondov and K. Kotru and J. Lauigan and M. Li and M. Lu and E. Megidish and J. Marjanovic and M. McDonald and T. Mittiga and J. A. Muniz and S. Narayanaswami and C. Nishiguchi and R. Notermans and T. Paule and K. Pawlak and L. Peng and A. Ryou and A. Smull and D. Stack and M. Stone and A. Sucich and M. Urbanek and R. van de Veerdonk and Z. Vendeiro and T. Wilkason and T. -Y. Wu and X. Xie and X. Zhang and B. J. Bloom},
journal= {arXiv preprint arXiv:2305.19119},
year = {2024}
}
备注
12 pages, 7 figures