利用介质谐振器技术在低温下对 CaF2 进行微波表征
材料科学
2012-09-04 v1 光学
摘要
氟化钙 (CaF2) 的性质在紫外、可见光和红外频段已得到充分研究，但在超高频段尚未得到充分研究。在这项工作中，我们报告了在 15 - 81 K 温度范围和 29.25 GHz 频率下测得的 CaF2 的损耗角正切和相对介电常数的实部。损耗角正切和相对介电常数的实部是通过测量包含待测样品的带有超导板的 TE011 模圆柱形铜腔的谐振频率和 Qo 因子来确定的。研究发现，当温度从 15 K 变化到 81 K 时，CaF2 的相对介电常数实部从 6.484 变化到 6.505，损耗角正切从 3.1x10^(-6) 变化到 22.7x10^(-6)。由于低损耗特性，CaF2 可用于构建在低温下工作的高 Q 因子微波电路和器件。
引用
@article{arxiv.1209.0110,
title = {Microwave characterisation of CaF2 at cryogenic temperatures using a dielectric resonator technique},
author = {Mohan V. Jacob and Janina E. Mazierska and Dimitri O. Ledenyov and Jerzy Krupka},
journal= {arXiv preprint arXiv:1209.0110},
year = {2012}
}
备注
6 pages, 8 figures, 2 tables; http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0955221903001833