微结构依赖的 Cu0.7Al0.3 薄膜氧化辅助去合金化
材料科学
2017-07-31 v2
摘要
本文利用粉末 X 射线衍射、场发射扫描电子显微镜和能量色散 X 射线分析，研究了在不同温度下经高真空退火获得的不同微结构的 Cu0.7Al0.3 薄膜的氧化辅助去合金化 (OAD)。观察到不同的微结构（如共晶混合物或固溶体）以及共晶混合物 Cu0.7Al0.3 薄膜中 Cu 或 Al 组分的晶粒尺寸极大地影响了腐蚀形貌。因此，这提供了一条制备具有可控孔径、孔隙率、嵌段尺寸和形状的柔性 CuO 多孔纳米结构薄膜 (PNFs) 的实用途径。此外，还探讨了 Cu0.7Al0.3 薄膜结构导致不同腐蚀形貌的潜在 OAD 机制。在这些方面，该研究对于理解 OAD 过程机制和控制 PNF 制备技术均具有启发性和关键意义。
引用
@article{arxiv.1407.3131,
title = {Microstructure-dependent oxidation-assisted dealloying of Cu0.7Al0.3 thin films},
author = {Jiangbin Su and Meiping Jiang and Honghong Wang and Yang Liu},
journal= {arXiv preprint arXiv:1407.3131},
year = {2017}
}
备注
18 pages, 3 figures, 1 table