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掺铒 CaMoO$_4$ 薄膜的微观结构及初步光学与微波表征

材料科学 2025-08-22 v1 量子物理

摘要

本工作探索了在硅和氧化钇稳定氧化锆(YSZ)衬底上生长的掺铒钼酸钙(CaMoO4_4)薄膜,将其作为一种潜在的固态系统,用于量子网络应用中的 C 波段(利用 \sim1.5 μ\mum Er3+^{3+} 4f-4f 跃迁)量子发射器。通过分子束外延生长实验以及电子显微镜、X 射线衍射和反射电子衍射研究,我们确定了一个受掺入限制的沉积区域,该区域使得生长中的薄膜能够达到 1:1 的 Ca:Mo 比例,从而形成单相 CaMoO4_4,并可原位掺杂 Er(通常为 2-100 ppm)。我们进一步表明,在硅衬底上的生长是单相但多晶形态;而在 YSZ 衬底上的生长则导致高质量的外延单晶 CaMoO4_4 薄膜。我们对 2 ppm、200 nm 外延 CaMoO4_4 退火薄膜的疑似 Y1Z1Y_1 - Z_1 跃迁进行了初步的光学和微波表征,提取出光学非均匀线宽为 9.1(1) GHz,光学激发态寿命为 6.7(2) ms,光谱扩散限制的均匀线宽为 6.7(4) MHz,以及 EPR 线宽为 1.10(2) GHz。

关键词

引用

@article{arxiv.2508.15122,
  title  = {Microstructural and preliminary optical and microwave characterization of erbium doped CaMoO$_4$ thin films},
  author = {Ignas Masiulionis and Bonnie Y. X. Lin and Sagar Kumar Seth and Gregory D. Grant and Wanda L. Lindquist and Sungjoon Kim and Junghwa Kim and Angel Yanguas-Gil and Jeffrey W. Elam and Jiefei Zhang and James M. LeBeau and David D. Awschalom and Supratik Guha},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2508.15122},
  year   = {2025}
}

备注

8 pages, 4 figures