在系统效应存在下测量 X 射线偏振：已知背景

在停滞了 37 年多之后，近年来对天文源进行 X 射线偏振测量的前景有所增长。不幸的是，伴随着这一长期停滞的是对这些源的 X 射线偏振测量相关的统计不确定性的一些混淆。我们启动了一项计划来进行详细计算，以深入了解与 X 射线偏振测量相关的不确定性。在此，我们描述了一种数学形式体系，用于确定在存在（偏振或非偏振）背景的情况下 X 射线（线性）偏振的幅值和位置角的单参数和双参数误差。我们进一步回顾了相关统计学，包括明确区分最小可探测偏振度 (MDP) 与偏振测量的准确度。