利用极短电流脉冲测量通过 Josephson 结的电流涨落分布
介观与纳米尺度物理
2008-09-10 v2 超导电性
摘要
我们提出利用在绝热状态下通过极短偏置电流脉冲获得的 Josephson 结 (JJ) 的逃逸概率直方图来探测电流涨落分布，在该状态下电流涨落的低频分量起着至关重要的作用。我们分析了小偏度极限下三阶累积量对直方图的影响，并针对 JJ 采用实际参数探讨了两个具体实例。在第一个实例中，我们研究了由隧道结产生的涨落效应，发现通过对逃逸概率关于电流求导可以检测到高阶累积量的特征。然而，在这种实际情况中，确定电流涨落的完整分布需要放大累积量。作为第二个实例，我们考虑了由随机电报噪声源产生的、作用于 SQUID 上的磁通量涨落。
关键词
引用
@article{arxiv.0801.3735,
title = {Measuring the distribution of current fluctuations through a Josephson junction with very short current pulses},
author = {Fabio Taddei and Frank W. J. Hekking},
journal= {arXiv preprint arXiv:0801.3735},
year = {2008}
}
备注
6 pages, 6 figures; final version